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上海抗干扰介质损耗测试仪Z低报价

  • 发布日期:2015-10-12      浏览次数:1190
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      一、上海抗干扰介质损耗测试仪zui低报价产品概述:

      抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容器容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容器容量(Cx)它淘汰了 QS 高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度zui快)体积小、重量轻等特点。

      二、上海抗干扰介质损耗测试仪zui低报价产品参数:

      1、高压输出: 0.5 ~10kV,每一档增加500V,共有20档
      高压输出电缆、可拖地使用
      45Hz、50Hz、55Hz三种频率
      2、容 量: 1500VA
      3、准 确 度: tgδ: ±(读数*1.0%+0.08%)
      Cx: ±(读数*1.5%+5PF)
      4、分 辨 率: tgδ:0.01% Cx:1pF
      5、测量范围: 0.1% < tgδ < 50%
      3PF< Cx < 60000PF
      10KV时,Cx ≤30000PF
      5KV时,Cx ≤60000PF
      6、电 源: AC 220V士10% 50士1Hz
      7、谐波适应: ≤3% 
      8、使用条件: -15℃-50℃ 相对湿度<80% 
      9、外型尺寸: 460(L)×335(W)×340(H)
      10、重 量: 30 kg

      三、上海抗干扰介质损耗测试仪zui低报价工作原理:

      抗干扰介质损耗测试仪测量线路包括一路标准回路和一路测试回路。
      标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品的电容容值(Cx)和其介质损耗(tgδ)。专业制造商上海胜绪电气有限公司欢迎您来电订购。
      数据采集电路全部采用高稳定度器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器的外壳接地屏蔽,另外使用了光导数据,浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,故测量结果稳定、、可靠。
      仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活的采用多种接线方式, 如采用“正接线法"进行测量时,可将“E"点接地,而当采用“反接线法"进行测量时,可将“UH"点接地,而将E点浮空。
      图中除测试品Cx外,其余为本仪器,细线框内部分对仪器外壳能承受15KV工频高压5分钟,额定耐压10KV,仪器内附标准电容CN,名义值为50PF,tgδ≤0.0001,耐压10KV高压变压器额定输出功率为1KVA.
      ★“E"点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连,不是大地与仪器的外壳也不连通!